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    CT440/440-PDL - 無源元器件測試儀

    CT440/440-PDL - 無源元器件測試儀

    簡要描述:CT440/440-PDL - 無源元器件測試儀
    緊湊的測試儀,用于快速、準確地鑒定無源光元器件

    產品型號:

    所屬分類:光無源器件

    更新時間:2024-12-16

    詳細說明:

    CT440/440-PDL - 無源元器件測試儀

    緊湊的測試儀,用于快速、準確地鑒定無源光元器件

    主要優點

    快速測量變化函數
    波長范圍為1240-1680 nm(SMF型號)
    PM和PDL選件
    波長分辨率為1-250 pm
    波長精度為±5 pm
    單次掃描的動態范圍為65 dB
    多可結合4個可調諧激光器(SMF型號)
    配備四個內部檢測器,可通過同步進行擴展

    EXFO s緊湊型CT440讓您快速準確地測試無源光學組件(如MUX/DEMUX,濾波器,分配器)和模塊(ROADM, WSS)。
    更重要的是,該裝置覆蓋了從1240到1680 nm的光譜范圍,允許在整個電信波段進行測量。
    通過PDL選項,CT440可以同時測量插入損耗和偏振相關損耗。



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